材質(zhì)分析市場主條目：計(jì)算材料科學(xué)部電話:13817209995 　　（3）X-射線熒光光譜(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一種非破壞性的分析方法，可對(duì)固體樣品直接測定。在納米材料成分分析中具有較大的優(yōu)點(diǎn)；X射線熒光光譜儀有兩種基本類型波長色散型和能量色散型；具有較好的定性分析能力，可以分析原子序數(shù)大于3的所有元素。本低強(qiáng)度低，分析靈敏度高，其檢測限達(dá)到10-5～10-9g/g（或g/cm3）；可以測定幾個(gè)納米到幾十微米的薄膜厚度。氧化性殺菌劑配方成分分析(氧化性殺菌劑和非氧化性殺菌劑的區(qū)別)     我們專注于-氧化性殺菌劑配方成分分析-為生產(chǎn)制造型企事業(yè)單位提供一體化的產(chǎn)品配方技術(shù)研發(fā)服務(wù)。通過賦能各領(lǐng)域生產(chǎn)型企業(yè)，致力于推動(dòng)新材料研發(fā)升級(jí)，為產(chǎn)品性能帶來突破性的成效。本著以分析研究為使命，堅(jiān)持以客戶需求為導(dǎo)向，通過高性價(jià)比和嚴(yán)謹(jǐn)?shù)募夹g(shù)服務(wù)，助力企業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)研發(fā)、性納米紋理表面在納米尺度上具有一維，即只有物體表面的厚度在 0.1 到 100 nm 之間。能改進(jìn)效率。服務(wù)領(lǐng)域覆蓋高分子材料、精細(xì)化學(xué)品、生物醫(yī)藥、節(jié)能環(huán)保　　電鏡-能譜分析方法：利用電鏡的電子束與固體微區(qū)作用產(chǎn)生的X射線　　表面與微區(qū)成分分析進(jìn)行能譜分析（EDAX）；與電子顯微鏡結(jié)合（SEM，TEM），可進(jìn)行微區(qū)成份分析；可進(jìn)行定性和定量分析。、日用化學(xué)品等領(lǐng)域。我們堅(jiān)持秉承“服務(wù)，不止于分析！”的服務(wù)理念，在提供不同產(chǎn)品配方技術(shù)研該領(lǐng)域本質(zhì)上是跨學(xué)科的　　成分分析分類，材料科學(xué)家或工程師必須了解并利用物理學(xué)家、化學(xué)家和工程師的方法。相反，生命科學(xué)和考古學(xué)等領(lǐng)域可以激發(fā)新材料和新工藝的開發(fā)，采用仿生和仿古方法。因此，與這些領(lǐng)域保持著密切的關(guān)系。相反，由于領(lǐng)域之間的顯著重疊，許多物理學(xué)家、化學(xué)家和工程師發(fā)現(xiàn)自己從事材料科學(xué)工作。發(fā)服務(wù)的同時(shí)，為確保客戶合法權(quán)益不受侵害，還提供專利申報(bào)等知識(shí)產(chǎn)權(quán)服務(wù)。您的信任，是我們的堅(jiān)守動(dòng)力和執(zhí)著追求。