材質(zhì)分析市場(chǎng)部電話:138 (2) 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜法(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS) 是通過(guò)用一次離子激發(fā)樣品表面,打出極其微量的二次離子,根據(jù)二次離子因不同的質(zhì)量而飛行到探測(cè)器的時(shí)間不同來(lái)測(cè)定離子質(zhì)量的極高分辨率的測(cè)量技術(shù)。17209995
黑磷化劑配方成分分析(黑磷化劑配方大全)
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