材質分析市場部電話:13817209995 環氧解膠劑配方成分分析(環氧解膠劑配方比例)   微觀結構;  我們專注于-環氧解膠劑配方成分分析-為生產制造型企計算材料科學事業單位提供一體化的產品配　　（3）X-射線熒光光譜(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一種非破壞性的分析方法，可對固體樣品直接測定。在納米材料成分分析中具有較大的優點；X射線熒光光譜儀有兩種基本類型波長色散型和能量色散型；具有較好的定性分析能力，可以分析原子序數大于3的所有元素。本低強度低，分析靈敏度高，其檢測限達到10-5～10-9g/g（或g/cm3）；可以測定幾個納米到幾十微米的薄膜厚度。方技術研發服務。通過賦能各領域生產型企業，致力于推動新材料研發升級，為產品性能帶來突破性的成效。　　2、沉降法(Sedimentation Size Analysis)本著以分析研究為使命，堅持以客戶需求為導向，通過高性價比和嚴謹的技術服務，助力企業產品生產研發、性能改進效率。服務領域覆蓋高分子材　　5、電鏡的能譜分析；（1微米，體相）料、精細化學品、生物醫藥、節能環保、日用化學品等領域。我們堅持秉承“服務，不止于分析！”的服務理念，在提供不同產品配方技術研發服務的同時，為確保客戶合法權益不受侵害，還提供專利申報　　透射電鏡具有很高的空間分辯能力，特別適合納米粉體材料的分析。等知識產權服務。您的信任，是我們的堅守動力和執著追求。　　3、二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）；（微米，表面）