材質分析市場部電話:13817209主條目:復合材料995
進氣系統清洗劑配 透射電鏡比較適合納米粉體樣品的形貌分析,但顆粒大小應小于300nm,否則電子束就不能透過了。對塊體樣品的分析,透射電鏡一般需要對樣品進行減薄處理。方成分分析(進氣系統清洗有必要嗎)
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掃描原子力顯微鏡(AFM)可以對納米薄膜進行形貌分析,分辨率可以達到幾十納米,比STM差,但適合導體和非導體樣品,不適合納米粉體的形貌分析。